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日本 humo 绝缘测试压力计 HIT-250使用内置电源时,可以在最大 250V 的电压下进行绝缘测试;使用外部电源时,可以在最大 1kV 的电压下进行绝缘测试。即使是2端子连接也可以进行接触检查。无需使用外部开关继电器即可测量晶体端子之间的绝缘以及封装与端子之间的绝缘。
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日本 humo 绝缘测试压力计 HIT-250
使用内置电源时,可以在最大 250V 的电压下进行绝缘测试;使用外部电源时,可以在最大 1kV 的电压下进行绝缘测试。即使是2端子连接也可以进行接触检查。无需使用外部开关继电器即可测量晶体端子之间的绝缘以及封装与端子之间的绝缘。
基本规格
通道数1
输出电压 输入外部电源时DC1 至 250V ±1%±0.3V DC1 至 1kV 5mA max
测量时间 50ms~9999ms
充电电流 5mA±2mA
测量精度
根据流过被测物的电流,范围如下
: 100pA~1nA:±10%
1mA~10nA:±3%
10nA~100μA:±1%
-----------------------------------------------
接触检测范围0.1pF以上
接触检测频率1.9MHz~2.1MHz
日本 humo 绝缘测试压力计 HIT-250
使用内置电源时,可以在最大 250V 的电压下进行绝缘测试;使用外部电源时,可以在最大 1kV 的电压下进行绝缘测试。即使是2端子连接也可以进行接触检查。无需使用外部开关继电器即可测量晶体端子之间的绝缘以及封装与端子之间的绝缘。
基本规格
通道数1
输出电压 输入外部电源时DC1 至 250V ±1%±0.3V DC1 至 1kV 5mA max
测量时间 50ms~9999ms
充电电流 5mA±2mA
测量精度
根据流过被测物的电流,范围如下
: 100pA~1nA:±10%
1mA~10nA:±3%
10nA~100μA:±1%
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接触检测范围0.1pF以上
接触检测频率 1.9MHz~2.1MHz