产品分类

products category

技术文章/ article

您的位置:首页  -  技术文章  -  日本 HONDA 本多 W‑357‑1MQG‑SKC 石英振动式超声波清洗机

日本 HONDA 本多 W‑357‑1MQG‑SKC 石英振动式超声波清洗机

更新时间:2026-08-10      浏览次数:163

W‑357‑1MQG‑SKC(PULSE JET 脉冲喷射系列)是 HONDA 本多电子面向半导体晶圆工艺开发的1MHz 高频石英振动分体式超声清洗设备,主打CMP 化学机械抛光后低损伤颗粒去除,解决晶圆 CMP 工艺后表面抛光浆料、研磨颗粒、胶体残留物清洗难题,兼顾高洁净度与微结构低损伤,广泛用于半导体研发、小批量制程、实验室工艺验证场景。

核心工作原理


区别于传统浸入式槽式超声清洗,本机采用石英振子非接触传导清洗技术。

1MHz 高频超声波加载在高纯石英振动体上,振动通过薄层清洗药液传递至晶圆表面;依靠液体加速度效应剥离 CMP 残留的二氧化硅、氧化铝抛光磨粒、胶体残渣,而非强空化冲击。振子与晶圆保持 1‑2mm 微小间隙,药液持续流动带走剥离颗粒,避免颗粒二次附着。

整机接液部位全部为石英材质,无橡胶密封圈、垫片接触药液,杜绝橡胶析出物造成晶圆二次污染,适配 CMP 后道超净清洗需求。


针对 CMP 痛点:普通低频超声容易造成晶圆图形层微损伤;纯水喷淋清洗难以去除纳米级镶嵌磨粒;槽式清洗易发生颗粒再附着。W‑357‑1MQG‑SKC 在去除抛光残渣的同时,最大限度保护光刻微结构。



产品主要特点

1MHz 高频低损伤,适配 CMP 抛光后晶圆清洗

1MHz 超高频振荡,空化强度柔和,以液体加速度效应实现除颗粒,对精细光刻图案、薄膜、多孔晶圆损伤极低;功率 0‑12W 连续可调,可根据 CMP 后残渣类型调试工艺参数,平衡洗净能力与工件保护。



全石英接液构造,满足半导体超净要求

与清洗介质接触部分全部采用高纯石英玻璃,无橡胶、塑料接触药液,不会析出离子与微粒;可兼容超纯水、稀释碱性 / 酸性半导体清洗药液,保障 CMP 后晶圆表面洁净度。


分体式主机 + 石英振动探头,支持自动化集成

发生器主机与清洗石英振子探头分离,探头可直接安装在清洗槽、半自动平台、晶圆处理工装内部;配备 RS‑422A 通讯接口,支持上位机远程设置功率、读取设备状态,可对接 CMP 后段半自动清洗工位,适合研发设备改造及小批量半自动化产线。


振子气体冷却系统,长时间连续运行稳定

支持氮气 / 干燥气体冷却石英振动传感器,抑制工作升温,避免频率漂移,长时间连续作业超声输出稳定,适合 CMP 工艺批量循环清洗,延长石英振子使用寿命。


LCD 数字工艺管理,工艺参数可固化

彩色液晶屏幕直观显示输出功率、运行状态;功率参数可存储固化,重复实验与工艺调试时直接调用,保证每一片 CMP 后晶圆清洗效果一致性。



典型应用场景

CMP 化学机械抛光后清洗:去除硅片表面抛光浆料、纳米磨粒、胶体残留,降低颗粒缺陷;

半导体工艺:光刻胶灰化后残渣去除、栅极器件清洗、掩模版、薄片试样微颗粒清洗;

材料研发:半导体基板、碳化硅、氮化镓等化合物半导体抛光后试样清洗;

实验室工艺开发:CMP 清洗配方验证、清洗效果对比测试。


项目规格参数
完整型号W‑357‑1MQG‑SKC(PULSE JET)
振荡频率1MHz
超声输出功率0‑12W 可调,连续运行建议≤10W(通气冷却条件)
工作方式石英振动体非接触传导式清洗
接液材质高纯石英玻璃(无橡胶接触药液)
冷却方式氮气 / 干燥压缩空气喷气冷却振子
通讯接口RS‑422A,支持上位机远程控制
电源规格AC100V 50/60Hz
主机外形尺寸210×325×260mm
配置组成发生器主机、石英振动清洗探头、连接线缆
适用工艺CMP 后清洗、半导体晶圆微颗粒去除、试样精密洗净


版权所有©2026 深圳九州工业品有限公司 All Rights Reserved   备案号:粤ICP备2023038974号   sitemap.xml   技术支持:环保在线   管理登陆