产品分类

products category

技术文章/ article

您的位置:首页  -  技术文章  -  Devices&services美国D&S——半球发射率测量仪 AE1&RD1技术参数

Devices&services美国D&S——半球发射率测量仪 AE1&RD1技术参数

更新时间:2024-03-20      浏览次数:50

Devices&services美国D&S——半球发射率测量仪 AE1&RD1技术参数



参数
详细内容
读数 器
D&S 微型数字伏特计,型号RD1
输   出:

材料温度为25℃时,2.4 毫伏通常对应材料发射率为0.9

线   性
检测器输出和发射率成线性关系,精度为±0.01发射单位
测量时间
10s
加热装置
加热被测样品,使其在与标准体温度相同的情况下被测量
样品温度
最大130华氏度,约为55℃
漂移
输出可能会随着环境而变化,但是在短时间测量内可以忽略不计
标准体
提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体,其中一套标准可用来测量时使用,另一套标准体备用并作为参比。
电源
100-240V/50-60Hz,12V直流输出
 测量波长

3——30μm

测量范围

0——1

测量精度
±0.01
被测样品尺寸

Min Φ5.7cm (可选配Φ2.54cm样品探测器)

外形尺寸

探测头Φ57X107mm,测量台 H46mm×宽105mm×D152mm

标准配置

AE1探测头,高发射率标定块和低发射率标定块各2个,发射率测量仪,电源线,CD教学视频、校准证书、操作手册、手提箱。



版权所有©2024 深圳九州工业品有限公司 All Rights Reserved   备案号:粤ICP备2023038974号   sitemap.xml   技术支持:环保在线   管理登陆