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日本advanced 厚度/膜厚/光学常数测量装置

日本advanced 厚度/膜厚/光学常数测量装置ETA-TCM
这是一种测量纳米级薄膜厚度的装置。其特点是快速、非接触、能够高精度地进行大面积测量。

  • 产品型号:ETA-TCM
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2024-08-13
  • 访  问  量:170
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产品详情
品牌其他品牌类型薄膜
测量范围大面积产地进口

日本advanced 厚度/膜厚/光学常数测量装置ETA-TCM

这是一种测量纳米级薄膜厚度的装置。其特点是快速、非接触、能够高精度地进行大面积测量。

特长:

反射/透射光谱测量

测量基材上单层薄膜的 n/k(光学常数)

基材上堆叠的每层薄膜的膜厚(最多3层)

各膜层光学模型及参数可调

受光部波长带(320nm~1700nm)

配备自动校准功能

支持高速测量、卷对卷、在线测量

应用:

1.电子产品

显示/照明/半导体/OLED等

实例:AR/防指纹膜/防污膜/阻隔膜/硬涂层/绝缘/TFT等。

2.汽车

医疗器械/药品/细胞/小瓶等

实例:AR/防指纹膜/防污膜/阻隔膜/硬涂层/隔膜等。

3.生物医学

显示/照明/半导体/OLED等

实例:SiO2涂层/医用薄膜等。

4.其他的

太阳能电池/锂电池/镜头/饮料容器/光盘等

实例:阻隔膜/硬涂层/SiO2涂层/聚碳酸酯/隔膜等。

日本advanced 厚度/膜厚/光学常数测量装置ETA-TCM

这是一种测量纳米级薄膜厚度的装置。其特点是快速、非接触、能够高精度地进行大面积测量。

特长:

反射/透射光谱测量

测量基材上单层薄膜的 n/k(光学常数)

基材上堆叠的每层薄膜的膜厚(最多3层)

各膜层光学模型及参数可调

受光部波长带(320nm~1700nm)

配备自动校准功能

支持高速测量、卷对卷、在线测量

应用:

1.电子产品

显示/照明/半导体/OLED等

实例:AR/防指纹膜/防污膜/阻隔膜/硬涂层/绝缘/TFT等。

2.汽车

医疗器械/药品/细胞/小瓶等

实例:AR/防指纹膜/防污膜/阻隔膜/硬涂层/隔膜等。

3.生物医学

显示/照明/半导体/OLED等

实例:SiO2涂层/医用薄膜等。

4.其他的

太阳能电池/锂电池/镜头/饮料容器/光盘等

实例:阻隔膜/硬涂层/SiO2涂层/聚碳酸酯/隔膜等。

日本advanced 厚度/膜厚/光学常数测量装置




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