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napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率

napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率CRN-100的介绍
超高电阻量程:10E+9~10E+15Ω/□的非接触式测量
面内多点测量功能
2-D/3-D映射图像显示
Windows7专用软件
测量数据可以CSV文件格式输出
非接触式可不受接触电阻影响进行测量

  • 产品型号:CRN-100
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-04-15
  • 访  问  量:176
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napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率CRN-100的介绍

napson电阻测量仪 电阻计 热电阻 电阻率CRN-100的介绍



  • 超高电阻量程:10E+9~10E+15Ω/□的非接触式测量

  • 面内多点测量功能

  • 2-D/3-D映射图像显示

  • Windows7专用软件

  • 测量数据可以CSV文件格式输出

  • 非接触式可不受接触电阻影响进行测量

测量规格

测量对象

*原则上,本装置测量范围内的任何样品均可测量。请联系我们。

・超高电阻薄膜样品(a-Si、IGZO等)

・接近绝缘的半导体材料

・导电橡胶

这样的

测量尺寸

尺寸:最大300×400mm

厚度:最大 2mm

*可以进行尺寸对应等定制。请联系我们。

测量范围

10E+9 至 10E+15Ω/□

测量规格

测量对象

半导体/太阳能电池材料(硅、多晶硅、SiC等)
 新材料/功能材料(碳纳米管、DLC、石墨烯、银纳米线等)
 导电薄膜(金属、ITO等)
 硅基外延、 ion Injection sample
 化合物半导体相关(GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等)
 其他(*请联系我们)

测量尺寸

2 至 8 英寸
(可选;12 英寸)

测量范围

[电阻率] 1m 至 200 Ω・cm
(*所有探头类型的总范围/当厚度为 500um 时)
[薄层电阻] 10m 至 3k Ω/sq
(*所有探头类型的总范围)


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