服务热线：15766191432产品到哪里，服务到哪里 !
products category
技术文章/ article
一、产品概述：什么是露点仪？在详细介绍Tekhne之前，首先要理解露点仪的作用。露点温度：指在恒定压力下，气体中的水蒸气达到饱和而凝结成露珠时的温度。露点温度越低，代表气体越干燥。露点仪：就是直接或间接测量出气体中该露点温度的精密仪器。它是衡量气体干燥度的黄金标准。日本Tekhne露点仪的核心价值在于，它能够提供极的高精度和长期稳定性的露点测量，这对于保证工业生产工艺、产品质量和设备安全至关重要。二、工作原理Tekhne露点仪主要采用最的经的典、最的可的靠的冷镜式原理，同时也...
一、产品概述日本SAKUMA高速冷却离心机是一种结合了高速旋转产生的强大离心力与精确温度控制功能的高性能分离设备。它主要用于快速分离和浓缩样品中的微量沉淀物、细胞器、蛋白质、核酸等，同时确保对温度敏感的样品在整个离心过程中保持活性或稳定性。二、核心工作原理离心沉降：基于样品中各组分的密度、大小和形状的差异，在高速旋转产生的强大相对离心力（RCF）作用下，密度大的组分被加速甩向离心管底部，密度小的组分则位于上层，从而实现分离和纯化。制冷系统：内置高效的压缩机制冷系统，能够在离心...
一、产品概述日本RIONTEC手持式颗粒计数器是一种便携式、电池驱动的精密仪器，用于快速、准确地测量和计数空气中的微粒。它能够同时监测多个通道（如0.3μm,0.5μm,1.0μm,5.0μm等），并直接显示每立方米或每立方英尺空气中的颗粒物浓度。其核心价值在于提供即时的洁净度评估。二、工作原理：光散射法RIONTEC手持式颗粒计数器采用最的经的典的光散射原理，也称为激光粒子计数法。其工作流程如下：采样与进气：内置的真空泵以恒定的流速（如2.83L/min或28.3L/min...
一、工作原理：分光光度法PATRON分光色差计的核心工作原理是分光光度法。这是一种比传统色差计（使用滤镜模拟人眼）更高级、更精确的技术。其过程可以概括为：照明：仪器内部的脉冲氙灯或LED光源发出包含整个可见光谱（通常为360nm-750nm）的光，通过透镜照射到待测物体表面。反射/吸收：物体表面会根据其本身的颜色特性，吸收特定波长的光，并反射其余波长的光。分光：反射光进入仪器内部，通过一个精密的光学元件（通常是衍射光栅），被色散成一个连续的光谱。检测：一个光电二极管阵列（或类...
一、工作原理：库仑法电解式膜厚测定仪的工作原理基于库仑法，这是一种电化学溶解方法。其过程可以概括为：建立电解池：将仪器配备的专用测量头（内含阳极）紧密压在待测涂层表面。测量头底部有一个橡胶圈，内部充满特定的电解液。这样，测量头（阳极）、涂层、金属基材（阴极）和电解液就构成了一个微型的电解池。恒定电流电解：仪器施加一个恒定不变的电流。局部溶解涂层：电流会促使电解液在测量头覆盖的微小区域内，从涂层表面开始向基材方向溶解涂层。由于电流恒定，溶解速率是均匀的。检测终点：当涂层被完的全...
山田光学（Yamada-Opt）强光灯详细介绍一、产品定位与核心价值山田光学的强光灯核心定位是：为工业视觉检测、科学研究、精密测量等专业领域提供高亮度、高稳定性、均匀且可控的照明解决方案。其核心价值在于：解决机器视觉的“光源”瓶颈：在自动化检测中，照明是决定图像质量的首要因素。好的光源能凸显缺陷、抑制干扰，极大提高检测系统的准确性和鲁棒性。替代不稳定的自然光或普通灯光：提供持续、稳定、无频闪的光线，确保检测条件的一致性，排除环境光干扰。专业化与定制化：针对不同的被测物（如反光...
Robotmation多功能蛋品检测仪详细介绍一、产品定位与核心价值这款设备的定位是：为蛋品生产企业（如蛋鸡场、蛋品加工厂、食品厂）提供一套全面、高效、无损的内部品质检测与分级解决方案。其核心价值在于：替代人眼与经验：用客观的量化数据取代传统照蛋灯下人工目视检查的主观性和不稳定性。提升品质标准：精确检测出肉眼无法发现的微小缺陷，将品质控制提升到新的高度。提高生产效率：全自动在线检测，速度极快，每小时可检测数千枚到数万枚鸡蛋，满足现代化生产线需求。数据化溯源管理：每一枚鸡蛋的检...
日本SANKO自动附着试验机详细介绍一、产品定位与核心价值SANKO自动附着试验机的核心定位是：为各类材料提供客观、精确、可重复的附着力定量测量解决方案。它通过标准化的测试方法，取代了传统主观性强的划格法、胶带法等定性测试，广泛应用于以下行业：半导体与微电子：晶圆上的薄膜、光刻胶、钝化层等。汽车工业：车身涂料、电泳层、零部件镀层。航空航天：热障涂层、功能性涂层。一般工业：油漆、涂料、油墨、电镀、PVD/CVD涂层等。其核心价值在于：量化结果：提供精确的附着力强度数值（如MPa...
HITACHI荧光X射线膜厚计FT230核心介绍一、产品定位与核心价值FT230的核心定位是为实现高良率、高效率的半导体生产提供精确、可靠、无损的薄膜厚度与成分测量。它主要服务于芯片制造中的关键工艺层监控，例如：金属互连层：Cu（铜）、Al（铝）布线、W（钨）栓塞、Ti/TiN（钛/氮化钛）阻挡层。高介电常数材料：HfO₂（氧化铪）等。其他功能薄膜：光刻胶、Poly-Si（多晶硅）等。它的核心价值在于将实验室级别的高精度与生产线上所需的高吞吐量、高稳定性完的美结合。二、主要技...
引言：从“测量工具”到“数据基石”的范式转变在传统半导体工厂中，荧光X射线（XRF）膜厚计主要被视作一台高精度的离线检测设备——它的任务是在生产间隙对抽样晶圆进行测量，判断膜厚是否在规格范围内，属于一种“事后诸葛亮”式的质控手段。然而，在智能工厂的宏大蓝图下，HITACHI智能XRF膜厚计的角色发生了根本性变革。它不再是一个孤立的仪器，而是进化成为一个关键的过程数据源，一个为整个工厂的“数字孪生”提供生命血液的感官神经末梢。一、什么是半导体工厂的“数字孪生”？半导体数字孪生是...
扫一扫
您的位置：
在线咨询
返回顶部