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更新时间：2026-10-09 
浏览次数：2在机器视觉检测领域，可见光相机存在很大局限性，很多材料内部缺陷、水分、异物、夹层结构无法成像识别。AITEC 艾泰克 LLBKD-SWIR 系列短波红外 SWIR 光源箱，是一款紧凑型高性能 SWIR 专用光源，覆盖 1000~1700nm 短波红外波段，搭配 InGaAs 短波红外相机，可实现可见光无法完成的透视、异物、水分检测，广泛应用于工业在线检测与科研成像。
LLBKD-SWIR 系列短波红外光源箱，提供多波长可选：1050nm、1100nm、1200nm、1300nm、1450nm、1550nm、1650nm，可根据被测材料光学特性自由挑选匹配波长。整机采用台式紧凑型箱体设计，体积小巧，既可以作为实验室平台光源，也能直接集成至自动化检测设备内部。全系分为 DA、SA 两大子型号阵列，每个波长均有对应机型，满足不同光输出与光学接口需求，适配光纤输出、自由空间照射两种使用方式。设备自带显示屏，可实时显示输出参数与机体温度，操作直观。
高性能 SWIR 波段覆盖，成像能力强光源适配 1000–1700nm 短波红外区间，专门针对硅透射、树脂穿透、水分吸收、材料内部异质检测开发。很多物质在可见光下外观一致，但在 SWIR 波段呈现明显光学差异，实现可见光看不到的内部结构可视化。
稳定光输出，保障高精度图像检测采用连续照明模式，长时间工作光强稳定，照度波动小，适合长时间在线成像检测。是高精度机器视觉检测的基础，有效降低图像灰度漂移带来的误检、漏检问题。光源自带温控风扇，根据光源温度自动调速，抑制光源温升，延缓光衰，延长光源使用寿命。
多模式灵活控制，适配自动化产线支持前面板手动调节、LAN 网络通信控制、外部信号 ON/OFF 触发三种控制方式。上位机、PLC、工控电脑可以通过网络远程调节光强、控制照明开启时长，方便接入产线控制系统，与相机采集信号同步联动。
集成便捷，适配多种使用场景小巧紧凑的盒式结构，节省设备安装空间。供电支持 AC 适配器或端子台供电两种方案，可选择光纤输出附件，将红外光引导至狭小检测工位。产品满足 RoHS2 环保标准，支持定制化开发，科研设备、工业自动化设备均可集成。
利用 SWIR 对水分敏感的特性，检测谷物、水果内部含水率、腐烂、空心缺陷；在线识别包装内混入的异物、杂质。可穿透包装薄膜，非接触式检测内部物料状态，实现食品产线在线品质管控。
实现硅片透射成像，检测晶圆内部缺陷；密封元器件内部裂纹、空洞、异物检查；PCB 板、连接器内部结构透视，无损观测元器件内部装配异常。
普通可见光无法穿透深色树脂、多层薄膜。SWIR 光源可穿透封装材料，检出夹层异物、分层、气泡、缺胶等内部缺陷，用于锂电池膜、包装膜、塑胶件的内部无损检测。
碳纤维、玻纤复合材料内部孔隙、分层缺陷可视化；利用红外反射差异，识别金属表面微小裂纹、皮下缺陷，实现无损探伤。
检测胶囊、药片内部异物、缺料；药包、化妆品容器的充填量检查，检查包装内部有无异物、药液缺失，保障药品与化妆品生产品质。
LLBKD-SWIR 系列拥有丰富型号矩阵，按波长分为：LLBKD-DA-IR1050、LLBKD-DA-IR1100、LLBKD-DA-IR1200、LLBKD-DA-IR1300、LLBKD-DA-IR1450、LLBKD-DA-IR1550、LLBKD-DA-IR1650；以及 LLBKD-SA-IR1050、LLBKD-SA-IR1100、LLBKD-SA-IR1200、LLBKD-SA-IR1300、LLBKD-SA-IR1450、LLBKD-SA-IR1550、LLBKD-SA-IR1650。
DA 系列：适配光纤输出方案，适合狭小空间、远距离导光检测；
SA 系列：自由空间直接照射，适合近距离大面积成像检测。
选型关键：根据被测物质的红外吸收特性选择对应波长，搭配 InGaAs 短波红外相机组成完整视觉检测系统。
AITEC LLBKD-SWIR 短波红外光源箱，是工业短波红外视觉检测的核心光源。稳定光输出、多波长可选、丰富的控制接口，兼顾科研实验与自动化量产产线。当可见光视觉方案无法识别材料内部缺陷、水分、夹层异物时，SWIR 短波红外光源是理想解决方案，广泛用于食品、半导体、新材料、医药、包装等行业无损检测。
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