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更新时间：2026-09-03 
浏览次数：2随着半导体芯片集成度不断提升，多引脚复杂器件对量产测试设备提出更高要求，既要充足的引脚资源，又要兼顾测试效率、系统扩展性与产线稳定性。Testram V2048 多引脚器件量产测试系统，专为高集成多引脚半导体器件量产场景打造，支持多工位并行测试，具备硬件配置与直流、功能测试能力，是芯片产线批量检测的可靠解决方案。
产品概述
Testram V2048 半导体测试系统面向量产环境设计，可同时对 4 个被测器件 DUT 开展并行测试，有效提升产线测试吞吐量。设备定价合理，本体扩展升级简单便捷，无需大规模改造即可适配不同阶段产品迭代；搭配直观清晰的人机操作界面，测试结果 PASS/FAIL 状态可视化展示，降低操作人员上手门槛，助力工厂高效开展大批量芯片测试工作。
核心产品优势 1、超大引脚资源，适配高集成器件
系统最大支持2048 针测试资源，PMU 单元最高可达 128 个，单颗 DUT 支持 512 引脚，能够应对引脚数量庞大的复杂半导体器件，满足复杂芯片的引脚参数测量需求。
2、可选配大电流电源，覆盖大功率测试需求
可搭载 HCDPS 大电流电源模块，最大输出电流可达 60A，满足大功率芯片、功率器件的大电流工况测试，拓展设备的测试覆盖范围。
3、四通道 DUT 并行测试，提升量产效率
支持最多 4 个 DUT 同时测量，多颗器件同步完成检测，相比单工位测试大幅压缩整体测试时长，适合产线大批量流转，有效降低单颗芯片测试时间成本。
4、集成 JTAG 功能，支持芯片配置与信息读取
提供 JTAG 接口功能，最多支持 144 针，可完成器件配置写入、信息读取，兼顾芯片调试验证与量产测试双重需求，方便研发到产线的流程衔接。
5、稳定可靠，适配工厂量产工况
整机硬件架构面向工业量产场景优化，具备高可靠性；软件界面逻辑清晰，测试结果直观呈现，便于产线人员快速判定良率，设备本体易于扩展，后续新增测试需求可灵活升级，保护设备投资。
主要测试项目
1. 简易功能测试，验证芯片基础工作逻辑；
2. 直流参数测试：电压施加‑电流测试、电流施加‑电压测试，完成器件各类直流电气参数采集判定。
设备规格参数
| 项目 | 参数 |
|---|---|
| 支持引脚数 | 最大 2048 针 |
| 同时测量设备数 | 4 个（512 引脚 / DUT） |
| 测试项目 | 简易功能测试；直流参数测试（电压施加电流测试、电流施加电压测试） |
| 主机外形尺寸・重量 | 570W×1582H×800D(mm)，200kg |
| 测试头外形尺寸・重量 | 430W×326.4H×580D(mm)，50kg |
典型应用场景
✅高集成多引脚半导体芯片量产测试
✅功率器件、复杂 IC 直流参数与功能检测
✅芯片工厂产线大批量并行测试
✅研发转量产阶段验证测试
总结
Testram V2048 量产测试系统，以 2048 针超大引脚资源、4 工位并行测试、可选 60A 大电流电源为核心亮点，兼顾测试性能、量产效率与设备可扩展性。直流参数、功能测试能力，搭配 JTAG 调试功能，适配复杂多引脚器件从验证到大批量生产的全流程测试，是半导体产线多器件并行检测的专业设备。
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