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otsukael膜厚监测仪 膜厚测量仪 紫外光谱仪

otsukael膜厚监测仪 膜厚测量仪FE-300的介绍
这是一款小型、低成本的膜厚测量仪,可通过高精度光学干涉测量法实现易于操作的膜厚测量。
我们采用一体式外壳,将必要的设备存储在主机中,实现了稳定的数据采集。

  • 产品型号:FE-300
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2023-04-14
  • 访  问  量:857
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品牌其他品牌产地国产

otsukael膜厚监测仪 膜厚测量仪FE-300的介绍

otsukael膜厚监测仪 膜厚测量仪FE-300的介绍


这是一款小型、低成本的膜厚测量仪,可通过高精度光学干涉测量法实现易于操作的膜厚测量。
我们采用一体式外壳,将必要的设备存储在主机中,实现了稳定的数据采集

特征
  • 支持从薄到厚的广泛薄膜厚度

  • 使用反射光谱的膜厚度分析

  • 紧凑、低成本、非接触、无损、高精度测量

  • 简单的条件设置和测量操作!任何人都可以轻松测量薄膜厚度

  • 使用峰谷法、频率分析法、非线性最小二乘法、化法等,可以进行广泛的膜厚测量。

  • 光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)可以通过非线性最小二乘法的膜厚分析算法进行。

测量项目
  • 绝对反射率测量

  • 薄膜厚度分析(10层)

  • 光学常数分析(n:折射率,k:消光系数)

 

测量对象
  • 功能性薄膜、塑料
    透明导电薄膜(ITO、银纳米线)、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、胶粘剂、粘合剂、保护膜、hard Coat、抗指纹代理等

  • 半导体
    化合物半导体、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、Sapphire等。

  • 表面处理
    DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。

  • 光学材料
    滤光片、增透膜等

  • FPD
    LCD(CF、ITO、LC、PI)、OLED(有机薄膜、密封胶)等

  • 其他
    HDD、磁带、建材等



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