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更新时间：2025-11-26 
浏览次数：2在半导体晶圆、液晶面板等高的端精密制造领域，产品表面的微观质量直接关系到最终产品的性能与良率。因此，对表面进行超精密检测，识别出微米甚至亚微米级别的缺陷，成为生产过程中不的可的或的缺的环节。日本山田光学推出的YP-150I和YP-250I高亮度卤素光源装置，正是为满足此类严苛的表面检查需求而设计的专用照明设备。
YP-150I和YP-250I是主要用于显微观察的照明装置。其核心应用是检测各类高光洁度成品表面的微小缺陷，例如：
表面附着异物
细微划痕
抛光不均匀
雾度
滑移线
这些缺陷在普通光照下难以察觉，但在特定角度和高亮度、高均匀性的光照下会显现出来。该系列装置通过提供高强度且稳定的照明，成为半导体加工、液晶面板制造等过程中进行质量控制的有效工具。
该系列产品具备多项旨在提升检测精度与稳定性的技术特点。
1. 高照度与均匀照明
两款装置均能提供超过400,000勒克斯的样品表面照度。如此高的照度是发现极其微小缺陷（资料提及可检测小于0.2微米的缺陷）的基础。同时，它们采用卤素灯作为光源，具备较高的色温，这使得照明光线不仅明亮，而且不均匀的情况较少，光斑稳定锐利，有助于检测人员获得清晰、一致的观察效果。
2. 有效的热管理
在提供高亮度光照的同时，卤素灯会产生大量热能，而过热可能影响精密样品或检测设备。该系列产品通过采用冷镜技术，将热量对观察过程的影响降至传统铝镜反射方式的三分之一，为长时间稳定观察创造了条件。
3. 便捷的操作设计
装置配备了高照度观察与低照度观察的一键切换功能。这一设计方便检测人员根据不同的检测需求或样品特性，快速调整照明强度，无需中断观察流程，提升了检测效率。
4. 型号区分与选择
YP-150I和YP-250I作为姊妹机型，在具体应用上有所区分。
YP-150I：其照明范围直径为30毫米，更适用于较小尺寸样品的精密检测。
YP-250I：其照明范围直径为60毫米，能够覆盖更大的面积，资料中特别提到可用于8英寸晶圆的检测。此外，YP-250I提供了螺旋桨风机型和管道风机型两种散热配置，用户可以根据实际安装环境与应用场景进行选择。
山田光学的YP-150I和YP-250I高亮度卤素光源装置，通过高照度卤素灯光源、有效的热管理以及人性化的操作设计，为半导体和液晶面板等行业的高精度表面缺陷检测提供了专业的照明解决方案。YP-150I侧重于小范围超精密检测，而YP-250I则扩展了照明面积并提供了更灵活的散热选项，两者共同满足了不同场景下对稳定、清晰照明环境的需求。该系列装置的存在，体现了专用照明设备在现代化精密制造质量控制环节中的重要性。
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