olympus 手持式测厚仪 45MG 对塑料、金属等材料进行厚度测量

更新时间：2024-01-15

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olympus 手持式测厚仪 45MG 对塑料、金属等材料进行厚度测量

使用单晶探头

使用单晶探头可以准确测量金属、塑料、复合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我们提供多种频率、直径和连

接器样式的单晶探头。如果用户要将45MG仪器与单晶探头配合使用，则必须购买单晶软件或高穿透软件选项。

在使用频率范围为2.25 MHz ～ 30 MHz的单晶探头时，单晶软件选项可显示分辨率高达0.001毫米的测量值。
高穿透软件选项用于测量玻璃纤维、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料
测量厚度、声速或渡越时间
自动调用默认设置和自定义设置用于当前应用的功能简化了厚度测量操作

单晶软件选项
使用单晶软件选项可以完成分辨率高达0.001毫米的精确厚度测量。可与范围在2.25 MHz到30 MHz的单晶Microscan
探头相兼容。可测量以下材料和产品：
大多数薄材料和厚材料
壁厚薄如0.08毫米的塑料瓶、管子、管道及薄片材料
壁厚薄如0.10毫米的金属容器、钢卷材、机加工部件
汽缸孔、涡轮叶片
玻璃灯泡、瓶子
薄壁玻璃纤维、橡胶、陶瓷及复合材料
曲面部位或内圆角半径较小的容器

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