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日本SUGAWARA菅原氙气闪光灯频闪仪应用于半导体寿命测试系统 MS-230DA

更新时间:2024-01-12      浏览次数:125


半导体寿命测试系统

硅板的寿命测试系统
(日本Napson公司)

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在半导体硅板的加工过程中,越来越多的制造厂商开始重视对其寿

命的测试,这个测试涉及对金属杂质含量及结晶瑕疵的判断和分析。

因此日本NAPSON公司结合SUGAWARA的闪频仪技术,研发设计

出针对硅板寿命测试的专用检测设备。

寿命测试是指用氙气闪光灯对硅板进行短暂照射增加正负极电子数

量,在硅体电子数量伴随使用时间减少后,通过照射增加到原来的

数量,恢复到初始状态。P型硅晶体通常会有大量正极电子,而N型

则是负极电子偏多,通过氙气闪光灯的短暂照射,可以使各自的电

子数量恢复到原始状态。

相关产品

多功能分体式氙气闪频仪15W系列MS-230DAimage.png

产品参数

型号MS-230DA
频闪范围60 – 26,500 r/min
灯泡15 W
闪光持续时间≤6 µs
功能内部触发,外接信号同步
电源AC100 V±10%
尺寸 (W×H×D)270×170×190 mm
重量6.8 kg


 




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