日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量

日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量OKL-CPM/PDS-500型

日本oklabCPM/PDS综合测量装置干扰测量OKL-CPM/PDS-500型

恒定光电流法 (CPM) 和光热偏转光谱法 (PDS) 可用于子带隙光吸收系数测量。

由于可以计算缺陷密度，因此可以应用于太阳能电池薄膜的性能改进和开发

特征

• 使用我们的 CPM 测量方法，可以抑制干扰并计算准确的缺陷密度。

• PDS 可以测量高达 0.4[eV] 的长波长

• 集成 CPM 和 PDS 的紧凑型经济型

• 测量是全自动的，没有麻烦

细节

我们的 CPM/PDS 组合测量设备型号 OKL-CPM/PDS-500 结构紧凑，因此可以用一台设备测量 CPM 和 PDS。我们CPM测量的特点是采用透射光测量法，采用了排除胶片干扰影响的方法。

因此，可以计算出准确的缺陷密度。此外，PDS除了可见光之外，还有红外光谱光栅，因此可以在长波长范围内进行测量。安装样品池的工作台配备了振动隔离功能，因为在测量过程中不需要振动。所有测量都是计算机控制的自动测量。

特征

• 使用我们的 CPM 测量方法，可以抑制干扰并计算准确的缺陷密度。

• PDS 可以测量高达 0.4[eV] 的长波长

• 集成 CPM 和 PDS 的紧凑型经济型

• 测量是全自动的，没有麻烦

细节

我们的 CPM/PDS 组合测量设备型号 OKL-CPM/PDS-500 结构紧凑，因此可以用一台设备测量 CPM 和 PDS。我们CPM测量的特点是采用透射光测量法，采用了排除胶片干扰影响的方法。

因此，可以计算出准确的缺陷密度。此外，PDS除了可见光之外，还有红外光谱光栅，因此可以在长波长范围内进行测量。安装样品池的工作台配备了振动隔离功能，因为在测量过程中不需要振动。所有测量都是计算机控制的自动测量。